Energosteel. Grinding Media Ball Manufacturer.

Материаловедение и термическая обработка сталей. Методы исследования структуры металлов и сплавов

Принято различать структуру металлов и сплавов на: макроструктуру, микроструктуру и тонкую структуру. В зависимости от структуры  металлов  и  сплавов,  выделяют три метода их исследования:

Макроскопический  анализ.

Макроструктура – это строение  металлов    и  сплавов, что видно  невооружённым  глазом  или  при  небольших  увеличениях  с  помощью  лупы  (макс. до 30 раз).  Макроструктура  изучается  путём  макроанализа.

Металлы  – это непрозрачные вещества и их  строение  изучают  в  изломе  или  специально  приготовленных  образцах (макрошлифах).  Образец  вырезают  из  определённого  места,  в  определённой  плоскости  в  зависимости  от  того,  что  подвергают  исследованию (литьё,  поковку,  штамповку,  прокат,  сварную  или  термически  обработанную  деталь) и  что  необходимо  выявить  и  изучить (первичную  кристаллизацию,  неоднородность  структуры, дефекты,  нарушающие  сплошность  металла).  Поэтому,  образцы  вырезают  из  одного  или  нескольких  мест  слитка (или заготовки,  или  детали)  как  в  продольном,  так  и  в  поперечном  направлениях.  Поверхность  образца  (темплета)  выравнивают  на  наждачном  круге, а  затем  шлифуют.  После  шлифования  темплет травят  в  специальных  реактивах,  которые  по-разному  растворяют  структурные  составляющие  и  растравливают  дефекты.

Макроанализ  выявляет:

Микроскопический  анализ

Более  тонким  методом  исследования  структуры  и  пороков  металлов  является  микроанализ,  т. е. изучение  структуры  металлов  при  больших  увеличениях  с  помощью  металлографического  микроскопа.

Микроскопический анализ – изучение поверхности при помощи световых микроскопов, где увеличение в пределах 50…2000 раз позволяет обнаружить элементы структуры размером до 0,2 мкм.

Металлографические  микроскопы.

Металлографический  микроскоп  рассматривает  металл  в  отражённом  свете (главное  отличие от  биологического  микроскопа,  где  предмет  рассматривается  в  проходящем  свете).    Значительно  большее  увеличение  можно  получить  при  помощи  электронного  микроскопа,  в  котором  лучи  света  заменены  потоком  электронов  (при  этом  достигается увеличение до 100 000 раз).

Просвечивающие микроскопы.

Поток электронов проходит через изучаемый объект. Изображение является результатом неодинакового рассеяния электронов на объекте. Различают косвенные и прямые методы исследования.

При косвенном методе изучают не сам объект, а его отпечаток – кварцевый или угольный слепок (реплику), отображающий рельеф микрошлифа, для предупреждения вторичного излучения, что искажает картину.

При прямом методе изучают тонкие металлические фольги толщиной до 300 нм, на просвет. Фольги получают непосредственно из изучаемого металла.

Растровые микроскопы.

Изображение создается за счет вторичной эмиссии электронов, излучаемых поверхностью, на которую падает непрерывно перемещающийся по этой поверхности поток первичных электронов. Изучается непосредственно поверхность металла. Разрешающая способность несколько ниже, чем у просвечивающих микроскопов.

Для  изучения  микроструктуры  также  приготавливаются  шлифы (микрошлифы). Здесь, после  шлифования  дополнительно  производится  полирование  до  зеркального  блеска,  затем  производят  травление  шлифа.

Микроанализ  позволяет  выявить:

Рентгеноструктурный  анализ  и  рентгеновская  дефектоскопия

Рентгеновские  лучи  имеют  ту  же  природу,  что  и  световые  лучи,  и  представляют  собой  электромагнитные  колебания,  с  длиной  их  волн  от 2 х10-7 до  10-9см (длина  световых  лучей  от  7,5 х10-5до  4 х10-5см).

Рентгеновские  лучи  получаются  в  рентгеновских  трубках  в  результате  торможения  электронов  при  их  столкновении  с  поверхностью  какого-либо  металла.  При этом  кинетическая  энергия  электронов  превращается  в  энергию  рентгеновских  лучей.

Рентгеноструктурный  анализ  основан  на  способности  атомов  отражать  рентгеновские  лучи в  кристаллической  решётке.   Отражённые  лучи  оставляют  на  фотопластинке  (рентгенограмме)  группу  пятен  или  колец.  По  характеру  их расположения определяют  тип  кристаллической  решётки,  а  также  расстояние  между  атомами  (положительными  ионами)  в  решётке.

Рентгеновское  просвечивание  основано  на  способности  рентгеновских  лучей  проникать  в глубину  тела.  Благодаря  чему  можно,  не  разрезая  металлических  изделий,  увидеть  на  рентгеновском  снимке  различные внутренние  дефекты металла (усадочные  раковины,  трещины,   пороки  сварки).

Методы регистрации  пороков  в  материале  основаны  на  том,  что  рентгеновские  лучи частично  поглощаются,  проходя  через  металл.  При  этом,  менее  плотные  части  металлического  изделия  (участки  с  пороками)  поглощают  лучи  слабее,  чем  плотные  (сплошной  металл).  Это  приводит  к  тому,  что  на  рентгеновском  снимке участки  с  пороками  будут  иметь  тёмные  или  светлые  пятна  на  фоне  сплошного  металла.

Современные рентгеновские  аппараты  позволяют  просвечивать  стальные  изделия  на  глубину  до  60 – 100  мм.

Для  выявления  дефектов  в  металлических  изделиях  большой  толщины  применяют  гамма-лучи.  Природа  гамма-лучей  аналогична рентгеновским лучам,  но  длина их волн меньше.  Благодаря  большой  проникающей  способности  гамма-лучей  ими  можно  просвечивать  стальные  детали  толщиной  до  300  мм.